Частотная селекция сигналов датчиков для получения информации о положении и фокусе электронного луча

В.Я. Браверман, В.В. Богданов, В.С. Белозерцев, Н.В. Успенский

Сибирский государственный аэрокосмический университет (СибГАУ)

имени академика М.Ф. Решетнева

Рассмотрена возможность слежения за стыком и стабилизации положения фокуса по вторичным электронам или рентгеновскому излучению путем введения в параметры луча гармонических составляющих и получения информации на частотах, представляющих комбинации вводимых в параметры частот гармонических составляющих. Такими параметрами являются положение луча относительно стыка и положение фокальной плоскости луча относительно поверхности свариваемых деталей. За счет частотной селекции сигналов повышается помехозащищенность устройств управления.

Ключевые слова: электронно-лучевая сварка, вторично-электронная эмиссия, рентгеновское излучение, отклонение луча от стыка, фокусное расстояние, частотная селекция.